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鐳射粒度儀測量粒度是以體積為基準的

點選次數✘│•↟│:243  釋出時間✘│•↟│:2022-09-01

  鐳射粒度儀測量粒度是以體積為基準的·✘◕。

  例如:在5.36-6.85區間是10%◕✘,則表示直徑在此範圍內所有顆粒體積佔全部顆粒體積的10%·✘◕。再如D90是18微米◕✘,一般我們簡化說◕✘,粒徑小於18微米的顆粒佔全部顆粒的90%·✘◕。進一步表述直徑小於18微米的顆粒體積佔全部顆粒體積的90%·✘◕。如果有其他資料都是在此基礎上換算而來(潤之Rise)·✘◕。


  鐳射粒度儀是根據顆粒能使鐳射產生散射這一物理現象測試粒度分佈的·✘◕。由於氦氖鐳射具有很好的單色性和方向性◕✘,所以在沒有阻礙的無限空間中鐳射將會照射到無窮遠的地方◕✘,並且在傳播過程中很少有發散的現象·✘◕。

  米氏散射理論表明◕✘,當光束遇到顆粒阻擋時◕✘,一部分光將發生散射現象◕✘,散射光的傳播方向將與主光束的傳播方向形成一個夾角θ◕✘,θ角的大小與顆粒的大小有關◕✘,顆粒越大◕✘,產生的散射光的θ角就越小;顆粒越小◕✘,產生的散射光的θ角就越大·✘◕。即小角度(θ)的散射光是有大顆粒引起的;大角度(θ1)的散射光是由小顆粒引起的·✘◕。進一步研究表明◕✘,散射光的強度代表該粒徑顆粒的數量·✘◕。這樣◕✘,測量不同角度上的散射光的強度◕✘,就可以得到樣品的粒度分佈了·✘◕。



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