產品概述
Rise-2008型鐳射粒度分析儀技術引數↟◕╃│·:
測試範圍 | 0.02-1200μm | 準確性誤差 | <0.5%(國家標準物質D50) |
測量原理 | 米氏散射原理 | 重複性誤差 | <0.5%(國家標準物質D50) |
測量方式 | 自動上水╃◕•◕▩、全自動溼法測量 | 光路系統 | 單鏡頭╃◕•◕▩、自動對中 |
鐳射光源 | 單光束╃◕•◕▩、氦氖氣體鐳射器 | 檢測角 | ≤135° |
攪拌轉速 | 0-3000轉/分鐘可調 | 超聲功率 | 100W |
迴圈泵速 | 0-5000轉/分鐘可調 | 樣品池 | 400ml |
粒度級別 | 123級 | 儀器結構 | 一體式 |
作業系統 | WinXP/Win7/Win8/Win10 | 介面方式 | USB |
Rise-2008型鐳射粒度儀工作原理↟◕╃│·:
Rise-2008型鐳射粒度儀採用全量程米氏散射理論▩₪◕☁▩,充分考慮到被測顆粒和分散介質的折射率等光學性質▩₪◕☁▩,根據大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分佈資料↟·▩☁╃。
顆粒測試的資料計算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法↟·▩☁╃。有約束擬合反演在計算前假設顆粒群符合某種分佈規律▩₪◕☁▩,再根據該規律反演出粒度分佈↟·▩☁╃。這種運算相對比較簡單▩₪◕☁▩,但由於事先的假設與實際情況之間不可避免會存在偏差▩₪◕☁▩, 從而有約束擬合計算出的測試資料不能真實反映顆粒群的實際粒度分佈↟·▩☁╃。
無約束擬合反演即測試前對顆粒群不做任何假設▩₪◕☁▩,透過光強直接準確地計算出顆粒群的粒度分佈↟·▩☁╃。這種計算前提是合理的探測器設計和粒度分級▩₪◕☁▩,給裝置本身提出很高的要求↟·▩☁╃。Rise-2008型鐳射粒度分析儀採用*的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分級▩₪◕☁▩,從而能夠準確地測量顆粒群的粒度分佈↟·▩☁╃。
Rise-2008型鐳射粒度儀技術特點↟◕╃│·:
------測試穩定的基礎↟◕╃│·:只有系統能夠提供穩定的光訊號▩₪◕☁▩,才能夠充分保證測試資料的穩定↟·▩☁╃。Rise-2008型鐳射粒度分析儀選用He-Ne氣體鐳射光源▩₪◕☁▩,波長0.6328微米▩₪◕☁▩,波長短▩₪◕☁▩,線寬窄▩₪◕☁▩,穩定性好▩₪◕☁▩,使用壽命大於25000小時▩₪◕☁▩,能夠很好的為系統提供穩定的鐳射源訊號↟·▩☁╃。
穩定有效的分散系統;高穩定氦氖氣體鐳射器╃◕•◕▩、高靈敏大角度探測器╃◕•◕▩、高效率便捷USB訊號傳輸系統穩定可靠;全自動執行╃◕•◕▩、自動對中系統使儀器始終保持在理想狀態;取樣速度高▩₪◕☁▩,大量資料有效減少少數異常資料對重複性的影響↟·▩☁╃。
------資料可靠的保證↟◕╃│·:保證測試資料可靠首先是訊號探測系統的設計合理▩₪◕☁▩,被測樣品分散效果的優劣和被測分散液的均勻程度是得出真實結果的另一決定性因素↟·▩☁╃。
------探測器↟◕╃│·:光電探測系統設計*▩₪◕☁▩,靈敏度高▩₪◕☁▩,主檢測器一個▩₪◕☁▩,輔助檢測器多個▩₪◕☁▩,採用非均勻性交叉三維扇形矩陣排列▩₪◕☁▩,zui大檢測角達到135度▩₪◕☁▩,充分保證了訊號探測的全面性↟·▩☁╃。
------光路↟◕╃│·:採用一個量程設計▩₪◕☁▩,會聚光路*▩₪◕☁▩,減少了傅立葉透鏡組▩₪◕☁▩,使測量範圍更寬▩₪◕☁▩,解析度更高▩₪◕☁▩,光路免調↟·▩☁╃。
------樣品分散↟◕╃│·:Rise-2008型鐳射粒度分析儀超聲分散系統能夠對被測樣品進行充分的分散↟·▩☁╃。
大功率超聲器(100W)與主機一體▩₪◕☁▩,超聲時間全自動操作▩₪◕☁▩,設定時間數字顯示▩₪◕☁▩,超聲時間0~9分50秒連續可調, 可根據樣品分散的難易程度設定超聲時間▩₪◕☁▩,良好的遮蔽處理使超聲分散和樣品測試可同時進行▩₪◕☁▩,即使具有*團聚性的顆粒也能夠充分分散以獲得真實的粒度分佈資料↟·▩☁╃。
樣品分散池(400ml)與主機一體,不鏽鋼材質▩₪◕☁▩,設計*▩₪◕☁▩,呈圓形▩₪◕☁▩,迴圈排液方便▩₪◕☁▩,不留塵垢▩₪◕☁▩,便於清洗↟·▩☁╃。
採用溼法分散▩₪◕☁▩,可用蒸餾水╃◕•◕▩、純淨水和酒精等液體作分散介質↟·▩☁╃。
------分散液均化↟◕╃│·:分散液的均勻程度是向探測系統提供穩定散射光訊號的前提▩₪◕☁▩,Rise-2008型鐳射粒度分析儀採用連續可調的攪拌和迴圈充分保證了分散液的均勻度↟·▩☁╃。
------攪拌系統↟◕╃│·:根據被測樣品的特性選擇合適的攪拌速度▩₪◕☁▩,防止顆粒沉澱▩₪◕☁▩,使分散液混合均勻▩₪◕☁▩,攪拌轉速全自動操作▩₪◕☁▩,設定速度數字顯示▩₪◕☁▩,攪拌轉速0~3000轉/分鐘連續可調▩₪◕☁▩,測試過程中同時開啟超聲可避免因攪拌速度過快產生氣泡造成的測試誤差↟·▩☁╃。
------迴圈系統↟◕╃│·:根據被測樣品的特性選擇合適的迴圈泵速▩₪◕☁▩,防止迴圈管路中顆粒沉澱▩₪◕☁▩,迴圈泵速全自動操作▩₪◕☁▩,設定速度數字顯示▩₪◕☁▩,迴圈泵速0~5000轉/分鐘連續可調▩₪◕☁▩,測試過程中同時開啟超聲既可避免因迴圈速度過快產生氣泡造成的測試誤差▩₪◕☁▩,又能夠防止顆粒在迴圈過程中產生團聚↟·▩☁╃。
------功能強大的分析軟體↟◕╃│·:PADMAS顆粒粒度測量分析系統(Particle Diameter Measure & Analysis System)功能強大▩₪◕☁▩,測試資料可以做平均╃◕•◕▩、統計╃◕•◕▩、比較和模式轉換等處理▩₪◕☁▩,具有微分分佈╃◕•◕▩、累積分佈╃◕•◕▩、標準分級╃◕•◕▩、R-R分佈╃◕•◕▩、自定義分級╃◕•◕▩、按目分級和數量分佈等多種格式↟·▩☁╃。
在0.02~2000微米內預設分級130級▩₪◕☁▩,在量程範圍內▩₪◕☁▩,從1~130級可自定義分級↟·▩☁╃。
測試報告中有粒度分佈圖形和粒度資料圖表▩₪◕☁▩,有D10╃◕•◕▩、D50╃◕•◕▩、D90╃◕•◕▩、平均粒徑和比表面積等特徵引數▩₪◕☁▩,有四個自定義引數根據需要自行輸入▩₪◕☁▩,重量比表面積與體積比表面積可以互換↟·▩☁╃。
粒度資料可儲存到EXCEL↟·▩☁╃。
支援中╃◕•◕▩、英文格式測試報告列印▩₪◕☁▩,頁首和頁尾可根據需要進行修改▩₪◕☁▩,有列印預覽功能▩₪◕☁▩,能夠將粒度分佈圖形和粒度資料圖表存成圖片或PDF格式▩₪◕☁▩,便與WORD互動使用↟·▩☁╃。
可根據使用者需要增加其他處理功能↟·▩☁╃。
------操作簡便↟◕╃│·:標準╃◕•◕▩、量化╃◕•◕▩、簡單的操作能夠在短時間內熟練掌握▩₪◕☁▩,測試資料過程在1分鐘內完成↟·▩☁╃。
------可視性強↟◕╃│·:測試軟體介面友好▩₪◕☁▩,測試過程清晰可見▩₪◕☁▩,瞬時重新整理▩₪◕☁▩,可視性強▩₪◕☁▩,可隨時觀察儀器執行狀況╃◕•◕▩、測試資料波動清況▩₪◕☁▩,分析所測資料的真實性╃◕•◕▩、可靠性↟·▩☁╃。迴圈╃◕•◕▩、超聲╃◕•◕▩、攪拌和排液等操作鍵都在智慧化觸控式操作面板上▩₪◕☁▩, 標準╃◕•◕▩、量化╃◕•◕▩、簡單的操作▩₪◕☁▩,有效縮短了測試時間▩₪◕☁▩,降低了對操作人員的要求↟·▩☁╃。
*符合ISO13320技術標準;*的光路配置▩₪◕☁▩,超大連續的物理測量角度;改進型反演演算法▩₪◕☁▩,使用者無需選擇“分析模式”▩₪◕☁▩,兼顧*的解析度和穩定性;無需更換透鏡▩₪◕☁▩,無需使用標準樣校準▩₪◕☁▩,量程範圍達到0.02微米至1200微米;採用訊號同步處理技術▩₪◕☁▩,實時測量速度高▩₪◕☁▩,不漏檢任何形狀和分佈顆粒的衍射資訊;採用高穩定氣體鐳射光源系統▩₪◕☁▩,確保檢測穩定性;增加散熱單元▩₪◕☁▩,提高裝置壽命↟·▩☁╃。
------裝置維護↟◕╃│·:全面的技術培訓和內容詳盡的使用操作說明書╃◕•◕▩、軟體線上幫助使操作人員能準確操作╃◕•◕▩、解決疑問╃◕•◕▩、排除故障↟·▩☁╃。
------↟◕╃│·:根據樣品的密度╃◕•◕▩、異性╃◕•◕▩、脆性╃◕•◕▩、磁性╃◕•◕▩、毒性╃◕•◕▩、流動性╃◕•◕▩、團聚性╃◕•◕▩、溶解性和物理化學反應等理化特性▩₪◕☁▩,我們總結出了一套科學╃◕•◕▩、系統和完整的分散測試方案▩₪◕☁▩,隨著儀器提供給使用者↟·▩☁╃。我們既銷售儀器▩₪◕☁▩,又提供分散測試方案↟·▩☁╃。
- 上一個↟◕╃│·: Rise-3012型動態顆粒影象儀
- 下一個↟◕╃│·: Rise-2006型溼法鐳射粒度儀