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Rise-2016幹法鐳射粒度儀

型 號

所屬分類幹法鐳射粒度儀

報價

釋出時間2021-11-05

產品描述₪₪₪✘:Rise-2016幹法鐳射粒度儀採用全量程米氏散射理論╃₪•,充分考慮到被測顆粒和分散介質的折射率等光學性質╃₪•,根據大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分佈資料✘☁₪◕。

產品概述

Rise-2016幹法鐳射粒度儀產品資料

Rise-2016幹法鐳射粒度儀技術指標₪₪₪✘:

1₪◕↟☁、測量範圍₪₪₪✘:0.1~800微米

2₪◕↟☁、準確性誤差₪₪₪✘:<±1%(國家標準物質D50)

3₪◕↟☁、重複性偏差₪₪₪✘:<±1%(國家標準物質D50)

4₪◕↟☁、電氣要求₪₪₪✘:交流220±10V╃₪•,50Hz, 200W

5₪◕↟☁、外觀尺寸₪₪₪✘:950×330×300mm

6₪◕↟☁、重量₪₪₪✘:40KG

Rise-2016幹法鐳射粒度儀工作原理₪₪₪✘:

  Rise-2016型幹法鐳射粒度分析儀採用全量程米氏散射理論╃₪•,充分考慮到被測顆粒和分散介質的折射率等光學性質╃₪•,根據大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分佈資料✘☁₪◕。

  顆粒測試的資料計算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法✘☁₪◕。有約束擬合反演在計算前假設顆粒群符合某種分佈規律╃₪•,再根據該規律反演出粒度分佈✘☁₪◕。這種運算相對比較簡單╃₪•,但由於事先的假設與實際情況之間不可避免會存在偏差╃₪•,從而有約束擬合計算出的測試資料不能真實反映顆粒群的實際粒度分佈✘☁₪◕。

  無約束擬合反演即測試前對顆粒群不做任何假設╃₪•,透過光強直接準確地計算出顆粒群的粒度分佈✘☁₪◕。這種計算前提是合理的探測器設計和粒度分級╃₪•,給裝置本身提出很高的要求✘☁₪◕。Rise-2016型幹法鐳射粒度分析儀採用*的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分級╃₪•,從而能夠準確地測量顆粒群的粒度分佈✘☁₪◕。

Rise-2016幹法鐳射粒度儀技術特點₪₪₪✘:

測試穩定的基礎₪₪₪✘:只有系統能夠提供穩定的光訊號╃₪•,才能夠充分保證測試資料的穩定✘☁₪◕。Rise-2016型幹法鐳射粒度分析儀選用He-Ne氣體鐳射光源╃₪•,波長0.6328微米╃₪•,波長短╃₪•,線寬窄╃₪•,穩定性好╃₪•,使用壽命大於25000小時╃₪•,能夠很好的為系統提供穩定的鐳射源訊號✘☁₪◕。

資料可靠的保證₪₪₪✘:保證測試資料可靠首先是訊號探測系統的設計合理╃₪•,被測樣品分散效果的優劣和被測分散液的均勻程度是得出真實結果的另一決定性因素✘☁₪◕。

探測器₪₪₪✘:光電探測系統設計*╃₪•,靈敏度高╃₪•,主檢測器一個╃₪•,輔助檢測器多個╃₪•,採用非均勻性交叉三維扇形矩陣排列╃₪•,zui大檢測角達到105度╃₪•,充分保證了訊號探測的全面性✘☁₪◕。

光路₪₪₪✘:採用一個量程設計╃₪•,會聚光路*╃₪•,減少了傅立葉透鏡組╃₪•,使測量範圍更寬╃₪•,解析度更高╃₪•,光路免調✘☁₪◕。

功能強大的分析軟體₪₪₪✘:

  PADMAS顆粒粒度測量分析系統(Particle Diameter Measure & Analysis System)功能強大╃₪•,測試資料可以做平均₪◕↟☁、統計₪◕↟☁、比較和模式轉換等處理╃₪•,具有微分分佈₪◕↟☁、累積分佈₪◕↟☁、標準分級₪◕↟☁、R-R分佈₪◕↟☁、自定義分級₪◕↟☁、按目分級和數量分佈等多種格式✘☁₪◕。在0.02~2000微米內預設分級130級╃₪•,在量程範圍內╃₪•,從1~130級可自定義分級✘☁₪◕。測試報告中有粒度分佈圖形和粒度資料圖表╃₪•,有D10₪◕↟☁、D50₪◕↟☁、D90₪◕↟☁、平均粒徑和比表面積等特徵引數╃₪•,有四個自定義引數根據需要自行輸入╃₪•,重量比表面積與體積比表面積可以互換✘☁₪◕。粒度資料可儲存到EXCEL✘☁₪◕。支援中₪◕↟☁、英文格式測試報告列印╃₪•,頁首和頁尾可根據需要進行修改╃₪•,有列印預覽功能╃₪•,能夠將粒度分佈圖形和粒度資料圖表存成圖片或PDF格式╃₪•,便與WORD互動使用✘☁₪◕。可根據使用者需要增加其他處理功能✘☁₪◕。操作簡便₪₪₪✘:標準₪◕↟☁、量化₪◕↟☁、簡單的操作能夠在短時間內熟練掌握╃₪•,測試資料過程在1分鐘內完成✘☁₪◕。

可視性強₪₪₪✘:測試軟體介面友好╃₪•,測試過程清晰可見╃₪•,瞬時重新整理╃₪•,可視性強╃₪•,可隨時觀察儀器執行狀況₪◕↟☁、測試資料波動清況╃₪•,分析所測資料的真實性₪◕↟☁、可靠性✘☁₪◕。標準₪◕↟☁、量化₪◕↟☁、簡單的操作╃₪•,有效縮短了測試時間╃₪•,降低了對操作人員的要求✘☁₪◕。

裝置維護₪₪₪✘:全面的技術培訓和內容詳盡的使用操作說明書₪◕↟☁、軟體線上幫助使操作人員能準確操作₪◕↟☁、解決疑問₪◕↟☁、排除故障✘☁₪◕。

₪₪₪✘:根據樣品的密度₪◕↟☁、異性₪◕↟☁、脆性₪◕↟☁、磁性₪◕↟☁、毒性₪◕↟☁、流動性₪◕↟☁、團聚性₪◕↟☁、溶解性和物理化學反應等理化特性╃₪•,我們總結出了一套科學₪◕↟☁、系統和完整的分散測試方案╃₪•,隨著儀器提供給使用者✘☁₪◕。我們既銷售儀器╃₪•,又提供分散測試方案✘☁₪◕。

Rise-2016型幹法鐳射粒度分析儀硬體簡介₪₪₪✘:

  硬體設計先進╃₪•,按照Q/01RZ01-2004標準生產╃₪•,元器件專業製造╃₪•,效能穩定可靠╃₪•,無易損配件✘☁₪◕。

幹法分散₪₪₪✘:

  在幹法狀態下╃₪•,樣品透過自動乾粉進樣器均勻輸送到高壓氣流中╃₪•,在高壓氣流的帶動下連續高速噴射到分散器中╃₪•,在到達分散器出口處樣品已經被充分分散╃₪•,穿過鐳射束之後樣品進入收集器中╃₪•,同時電腦立刻顯示出粒度分佈資訊✘☁₪◕。

1.幹法分散╃₪•,不需要任何分散劑和溶劑✘☁₪◕。分散原理如下圖所示

        

分散管摩擦產生的剪下力  顆粒間碰撞產生的摩擦剪下力   顆粒和分散管壁之間的碰撞

2. 採用靜音無油空氣壓縮機╃₪•,配以高效冷凝器╃₪•,保證產生純淨壓縮空氣;

3. 瞬時分散₪◕↟☁、瞬時測量╃₪•,測試精度快╃₪•,分析效率高╃₪•,從進樣到出結果一分鐘內完成;

Rise-2016型幹法鐳射粒度分析儀產品資料

Rise-2016型幹法鐳射粒度分析儀技術指標₪₪₪✘:

1₪◕↟☁、測量範圍₪₪₪✘:0.1~800微米

2₪◕↟☁、準確性誤差₪₪₪✘:<±1%(國家標準物質D50)

3₪◕↟☁、重複性偏差₪₪₪✘:<±1%(國家標準物質D50)

4₪◕↟☁、電氣要求₪₪₪✘:交流220±10V╃₪•,50Hz, 200W

5₪◕↟☁、外觀尺寸₪₪₪✘:950×330×300mm

6₪◕↟☁、重量₪₪₪✘:40KG

Rise-2016型幹法鐳射粒度分析儀工作原理₪₪₪✘:

  Rise-2016型幹法鐳射粒度分析儀採用全量程米氏散射理論╃₪•,充分考慮到被測顆粒和分散介質的折射率等光學性質╃₪•,根據大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分佈資料✘☁₪◕。

  顆粒測試的資料計算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法✘☁₪◕。有約束擬合反演在計算前假設顆粒群符合某種分佈規律╃₪•,再根據該規律反演出粒度分佈✘☁₪◕。這種運算相對比較簡單╃₪•,但由於事先的假設與實際情況之間不可避免會存在偏差╃₪•,從而有約束擬合計算出的測試資料不能真實反映顆粒群的實際粒度分佈✘☁₪◕。

  無約束擬合反演即測試前對顆粒群不做任何假設╃₪•,透過光強直接準確地計算出顆粒群的粒度分佈✘☁₪◕。這種計算前提是合理的探測器設計和粒度分級╃₪•,給裝置本身提出很高的要求✘☁₪◕。Rise-2016型幹法鐳射粒度分析儀採用*的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分級╃₪•,從而能夠準確地測量顆粒群的粒度分佈✘☁₪◕。

Rise-2016型幹法鐳射粒度分析儀技術特點₪₪₪✘:

測試穩定的基礎₪₪₪✘:只有系統能夠提供穩定的光訊號╃₪•,才能夠充分保證測試資料的穩定✘☁₪◕。Rise-2016型幹法鐳射粒度分析儀選用He-Ne氣體鐳射光源╃₪•,波長0.6328微米╃₪•,波長短╃₪•,線寬窄╃₪•,穩定性好╃₪•,使用壽命大於25000小時╃₪•,能夠很好的為系統提供穩定的鐳射源訊號✘☁₪◕。

資料可靠的保證₪₪₪✘:保證測試資料可靠首先是訊號探測系統的設計合理╃₪•,被測樣品分散效果的優劣和被測分散液的均勻程度是得出真實結果的另一決定性因素✘☁₪◕。

探測器₪₪₪✘:光電探測系統設計*╃₪•,靈敏度高╃₪•,主檢測器一個╃₪•,輔助檢測器多個╃₪•,採用非均勻性交叉三維扇形矩陣排列╃₪•,zui大檢測角達到105度╃₪•,充分保證了訊號探測的全面性✘☁₪◕。

光路₪₪₪✘:採用一個量程設計╃₪•,會聚光路*╃₪•,減少了傅立葉透鏡組╃₪•,使測量範圍更寬╃₪•,解析度更高╃₪•,光路免調✘☁₪◕。

功能強大的分析軟體₪₪₪✘:

  PADMAS顆粒粒度測量分析系統(Particle Diameter Measure & Analysis System)功能強大╃₪•,測試資料可以做平均₪◕↟☁、統計₪◕↟☁、比較和模式轉換等處理╃₪•,具有微分分佈₪◕↟☁、累積分佈₪◕↟☁、標準分級₪◕↟☁、R-R分佈₪◕↟☁、自定義分級₪◕↟☁、按目分級和數量分佈等多種格式✘☁₪◕。在0.02~2000微米內預設分級130級╃₪•,在量程範圍內╃₪•,從1~130級可自定義分級✘☁₪◕。測試報告中有粒度分佈圖形和粒度資料圖表╃₪•,有D10₪◕↟☁、D50₪◕↟☁、D90₪◕↟☁、平均粒徑和比表面積等特徵引數╃₪•,有四個自定義引數根據需要自行輸入╃₪•,重量比表面積與體積比表面積可以互換✘☁₪◕。粒度資料可儲存到EXCEL✘☁₪◕。支援中₪◕↟☁、英文格式測試報告列印╃₪•,頁首和頁尾可根據需要進行修改╃₪•,有列印預覽功能╃₪•,能夠將粒度分佈圖形和粒度資料圖表存成圖片或PDF格式╃₪•,便與WORD互動使用✘☁₪◕。可根據使用者需要增加其他處理功能✘☁₪◕。操作簡便₪₪₪✘:標準₪◕↟☁、量化₪◕↟☁、簡單的操作能夠在短時間內熟練掌握╃₪•,測試資料過程在1分鐘內完成✘☁₪◕。

可視性強₪₪₪✘:測試軟體介面友好╃₪•,測試過程清晰可見╃₪•,瞬時重新整理╃₪•,可視性強╃₪•,可隨時觀察儀器執行狀況₪◕↟☁、測試資料波動清況╃₪•,分析所測資料的真實性₪◕↟☁、可靠性✘☁₪◕。標準₪◕↟☁、量化₪◕↟☁、簡單的操作╃₪•,有效縮短了測試時間╃₪•,降低了對操作人員的要求✘☁₪◕。

裝置維護₪₪₪✘:全面的技術培訓和內容詳盡的使用操作說明書₪◕↟☁、軟體線上幫助使操作人員能準確操作₪◕↟☁、解決疑問₪◕↟☁、排除故障✘☁₪◕。

₪₪₪✘:根據樣品的密度₪◕↟☁、異性₪◕↟☁、脆性₪◕↟☁、磁性₪◕↟☁、毒性₪◕↟☁、流動性₪◕↟☁、團聚性₪◕↟☁、溶解性和物理化學反應等理化特性╃₪•,我們總結出了一套科學₪◕↟☁、系統和完整的分散測試方案╃₪•,隨著儀器提供給使用者✘☁₪◕。我們既銷售儀器╃₪•,又提供分散測試方案✘☁₪◕。

Rise-2016型幹法鐳射粒度分析儀硬體簡介₪₪₪✘:

  硬體設計先進╃₪•,按照Q/01RZ01-2004標準生產╃₪•,元器件專業製造╃₪•,效能穩定可靠╃₪•,無易損配件✘☁₪◕。

幹法分散₪₪₪✘:

  在幹法狀態下╃₪•,樣品透過自動乾粉進樣器均勻輸送到高壓氣流中╃₪•,在高壓氣流的帶動下連續高速噴射到分散器中╃₪•,在到達分散器出口處樣品已經被充分分散╃₪•,穿過鐳射束之後樣品進入收集器中╃₪•,同時電腦立刻顯示出粒度分佈資訊✘☁₪◕。

1.幹法分散╃₪•,不需要任何分散劑和溶劑✘☁₪◕。分散原理如下圖所示

        

分散管摩擦產生的剪下力  顆粒間碰撞產生的摩擦剪下力   顆粒和分散管壁之間的碰撞

2. 採用靜音無油空氣壓縮機╃₪•,配以高效冷凝器╃₪•,保證產生純淨壓縮空氣;

3. 瞬時分散₪◕↟☁、瞬時測量╃₪•,測試精度快╃₪•,分析效率高╃₪•,從進樣到出結果一分鐘內完成;

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